Cher Ming (Ntu, S'pore) Tan
Electromigration In Ulsi Interconnections
Gebonden EN 2010 9789814273329Levertijd ongeveer 16 werkdagen
Gratis verzonden
Samenvatting
Presents a description of the electro migration in integrated circuits. This book examines the various interconnected systems and their evolution employed in integrated circuit technology. It is suitable for readers on electro migration in ULSI interconnections.
Specificaties
ISBN13:9789814273329
Taal:EN
Bindwijze:Gebonden
Aantal pagina's:312
Uitgever:World Scientific Publishing Co Pte Ltd
Lezersrecensies
Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!
Rubrieken
- advisering
- algemeen management
- coaching en trainen
- communicatie en media
- economie
- financieel management
- inkoop en logistiek
- internet en social media
- it-management / ict
- juridisch
- leiderschap
- marketing
- mens en maatschappij
- non-profit
- ondernemen
- organisatiekunde
- personal finance
- personeelsmanagement
- persoonlijke effectiviteit
- projectmanagement
- psychologie
- reclame en verkoop
- strategisch management
- verandermanagement
- werk en loopbaan